Greiser, J. (1999). Anwendung der orientierungsabbildenden Mikroskopie auf die Mikrostrukturentwicklung in dünnen Schichten. Max-Planck-Inst. für Metallforschung.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Greiser, Jens. Anwendung Der Orientierungsabbildenden Mikroskopie Auf Die Mikrostrukturentwicklung in Dünnen Schichten. Stuttgart: Max-Planck-Inst. für Metallforschung, 1999.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Greiser, Jens. Anwendung Der Orientierungsabbildenden Mikroskopie Auf Die Mikrostrukturentwicklung in Dünnen Schichten. Max-Planck-Inst. für Metallforschung, 1999.
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