Design-for-test for digital IC's and embedded core systems:
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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Crouch, Alfred L. (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Upper Saddle River, NJ Prentice Hall 2000
Ausgabe:Repr. with corrections
Schlagworte:
Beschreibung:349 S. graph. Darst. CD-ROM (12 cm)
ISBN:0130848271

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