Optoelektronisches Verhalten von Dünnschichtbauelementen aus amorphem und mikrokristallinem Silizium:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Zimmer, Jürgen (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: München Walter-Schottky-Inst. 1999
Ausgabe:1. Aufl.
Schriftenreihe:Selected topics of semiconductor physics and technology 23
Schlagworte:
Online-Zugang:Inhaltsverzeichnis
Beschreibung:V, 171 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:3932749235

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