Properties of crystalline silicon:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: London INSPEC 1999
Schriftenreihe:Electronic Materials Information Service: EMIS datareviews series 20
Schlagworte:
Beschreibung:XXVI, 1016 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:0852969333

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