Dedicated near field optical microscopies for semiconductor materials and devices:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Cramer, Ronald M. (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Düsseldorf VDI-Verl. 1999
Ausgabe:Als Ms. gedr.
Schriftenreihe:Verein Deutscher Ingenieure: [Fortschritt-Berichte VDI / 9] 304
Schlagworte:
Beschreibung:Zugl.: Wuppertal, Univ., Diss.
Beschreibung:XI, 120 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:3183304090

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