Proceedings: [September 28 -30, 1999, New Atlantic City Convention Center, Atlantic City, NJ, USA]
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: International Test Conference Atlantic City, NJ (VerfasserIn)
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Piscataway, NJ Inst. of Electrical and Electronic Engineers 1999
Schlagworte:
Beschreibung:XIV, 1163 S. zahlr. Ill. u. graph. Darst.
ISBN:0780357531
078035754X
0780357558

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