Structural characterisation of 2D- und 3-D-nanostructures by means of high resolution electron microscopy:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Buschmann, Véronique (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: 1998
Schlagworte:
Beschreibung:Darmstadt, Techn. Univ., Diss., 1998
Beschreibung:IV, 146 S. Ill., graph. Darst.

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