Electron microscopy of semiconducting materials and ULSI devices: symposium held August 15 - 16, 1998, San Francisco, California, USA
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Warrendale, PA. Materials Research Soc. 1998
Schriftenreihe:Materials Research Society: Materials Research Society symposia proceedings 523
Schlagworte:
Beschreibung:XI, 270 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:1558994297

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