Advances and applications in the metallography and characterization of materials and microelectronic components: proceedings of the twenty-eighth annual technical meeting of the International Metallographic Society
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Bibliographische Detailangaben
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Material Parks, Ohio ASM Internat. 1996
Ausgabe:1. printing
Schriftenreihe:Microstructural science 23
Schlagworte:
Beschreibung:XI, 318 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:0871705702

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