Scattering and surface roughness: 30 - 31 July 1997, San Diego, California
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Bellingham, Wash. SPIE 1997
Schriftenreihe:Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers: Proceedings of SPIE 3141
Schlagworte:
Beschreibung:IX, 338 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:081942563X

Es ist kein Print-Exemplar vorhanden.

Fernleihe Bestellen Achtung: Nicht im THWS-Bestand!