Electrically based microstructural characterization II: symposium held December 1 - 4, 1997, Boston, Massachusetts, USA
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Warrendale, Pa. Materials Research Soc. 1998
Schriftenreihe:Materials Research Society: Materials Research Society symposia proceedings 500
Schlagworte:
Beschreibung:XI, 367 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:155899405X

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