Entwicklung und Anwendung eines ellipsometrischen Mikroskops zur lokalen Dickenmessung ultradünner, mikrostrukturierter Adsorbatfilme auf Festkörperoberflächen:
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| Format: | Abschlussarbeit Buch |
| Sprache: | German |
| Veröffentlicht: |
München
Utz, Wiss.
1999
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| Schriftenreihe: | Physik
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