Sachdev, M. (1998). Defect oriented testing for CMOS analog and digital circuits. Kluwer.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Sachdev, Manoj. Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits. Boston [u.a.]: Kluwer, 1998.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Sachdev, Manoj. Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits. Kluwer, 1998.
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