Ein Verfahren zur zuverlässigen experimentellen Modellierung von Mikrowellen-FETs:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Lin, Fujiang (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: Düsseldorf VDI-Verl. 1993
Ausgabe:Als Ms. gedr.
Schriftenreihe:Verein Deutscher Ingenieure: [Fortschritt-Berichte VDI / 9] 164
Schlagworte:
Beschreibung:Zugl.: Kassel, Univ., Diss., 1993
Beschreibung:XII, 153 S. graph. Darst.
ISBN:3181464090

Es ist kein Print-Exemplar vorhanden.

Fernleihe Bestellen Achtung: Nicht im THWS-Bestand!