APA (7th ed.) Citation

Heindl, J. (1999). Aspekte der SiC-Technologie: Micropipes und Implantantionsdefekte. Lehrstuhl für Mikrocharakterisierung.

Chicago Style (17th ed.) Citation

Heindl, Jürgen. Aspekte Der SiC-Technologie: Micropipes Und Implantantionsdefekte. Erlangen: Lehrstuhl für Mikrocharakterisierung, 1999.

MLA (9th ed.) Citation

Heindl, Jürgen. Aspekte Der SiC-Technologie: Micropipes Und Implantantionsdefekte. Lehrstuhl für Mikrocharakterisierung, 1999.