Aspekte der SiC-Technologie: Micropipes und Implantantionsdefekte:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Heindl, Jürgen (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: Erlangen Lehrstuhl für Mikrocharakterisierung 1999
Schriftenreihe:Mikrostrukturelle Materialforschung 9
Schlagworte:
Beschreibung:81 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:3932392159

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