Heindl, J. (1999). Aspekte der SiC-Technologie: Micropipes und Implantantionsdefekte. Lehrstuhl für Mikrocharakterisierung.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Heindl, Jürgen. Aspekte Der SiC-Technologie: Micropipes Und Implantantionsdefekte. Erlangen: Lehrstuhl für Mikrocharakterisierung, 1999.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Heindl, Jürgen. Aspekte Der SiC-Technologie: Micropipes Und Implantantionsdefekte. Lehrstuhl für Mikrocharakterisierung, 1999.
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