Materials characterization and optical probe techniques: proceedings of a conference held 27 - 30 July 1997, San Diego, California
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Bibliographische Detailangaben
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Bellingham, Wash. SPIE 1997
Schriftenreihe:Critical reviews of optical science and technology 69
Schlagworte:
Beschreibung:VII, 552 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:0819426008

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