Defects and diffusion in silicon processing: symposium held April 1 - 4, 1997, San Francisco, California, USA
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Bibliographische Detailangaben
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Pittsburgh, Pa. Materials Research Soc. 1997
Schriftenreihe:Materials Research Society: Materials Research Society symposia proceedings 469
Schlagworte:
Beschreibung:XV, 541 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:1558993738

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