Structural characterisations of sputtered metallic multilayers: X-ray and neutron scattering studies
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Tixier, Sébastien (VerfasserIn)
Format: Mikrofilm Buch
Sprache:Undetermined
Veröffentlicht: 1998
Ausgabe:[Mikrofiche-Ausg.]
Schlagworte:
Beschreibung:Zürich, Techn. Hochsch., Diss., 1998. - Mikrofiche-Ausg.: 2 Mikrofiches : 24x
Beschreibung:117 S. Ill., graph. Darst.

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