Proceedings of the First International Workshop on Noncontact Atomic Force Microscopy: NC-AFM 98 ; Osaka, Japan, July 21 - 23, 1998
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: International Workshop on Noncontact Atomic Force Microscopy Osaka (VerfasserIn)
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Amsterdam [u.a.] Elsevier 1999
Schriftenreihe:Applied surface science 140,3/4
Schlagworte:
Beschreibung:Einzelaufnahme eines Zeitschr.-H.
Beschreibung:X S., S. 244 - 455 S. Ill., graph. Darst.

Es ist kein Print-Exemplar vorhanden.

Fernleihe Bestellen Achtung: Nicht im THWS-Bestand!