Untersuchung tiefer Störstellen in GaAs mittels PICTS-Methode:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Solongo, Saran 1961- (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: 1998
Schlagworte:
Beschreibung:IX, 116 S. graph. Darst.

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