Einführung in die Sekundärionenmassenspektrometrie "SIMS": mit Tabellen und einem umfangreichen Anhang
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Bibliographic Details
Main Authors: Düsterhöft, Heinz (Author), Riedel, Miklos 1939- (Author), Düsterhöft, Bettina-Kirsten 1956- (Author)
Format: Book
Language:German
Published: Stuttgart ; Leipzig Teubner 1999
Series:Teubner-Studienbücher : Physik
Subjects:
Online Access:Inhaltsverzeichnis
Item Description:Literaturverz. S. 157 - 176
Physical Description:184 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:3519032392

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