Einführung in die Sekundärionenmassenspektrometrie "SIMS": mit Tabellen und einem umfangreichen Anhang
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Düsterhöft, Heinz (VerfasserIn), Riedel, Miklos 1939- (VerfasserIn), Düsterhöft, Bettina-Kirsten 1956- (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: Stuttgart ; Leipzig Teubner 1999
Schriftenreihe:Teubner-Studienbücher : Physik
Schlagworte:
Online-Zugang:Inhaltsverzeichnis
Beschreibung:Literaturverz. S. 157 - 176
Beschreibung:184 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:3519032392

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