Düsterhöft, H., Riedel, M., & Düsterhöft, B. (1999). Einführung in die Sekundärionenmassenspektrometrie "SIMS": Mit Tabellen und einem umfangreichen Anhang. Teubner.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Düsterhöft, Heinz, Miklos Riedel, und Bettina-Kirsten Düsterhöft. Einführung in Die Sekundärionenmassenspektrometrie "SIMS": Mit Tabellen Und Einem Umfangreichen Anhang. Stuttgart ; Leipzig: Teubner, 1999.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Düsterhöft, Heinz, et al. Einführung in Die Sekundärionenmassenspektrometrie "SIMS": Mit Tabellen Und Einem Umfangreichen Anhang. Teubner, 1999.
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