Identification of defects in semiconductors: 2
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Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Stavola, Michael (HerausgeberIn)
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: San Diego [u.a.] Acad. Press 1999
Schriftenreihe:Semiconductors and semimetals 51,2
Beschreibung:XIV, 434 S. Ill., zahlr. graph. Darst.
ISBN:0127521658

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