Simulations- und Meßmethoden zur Bestimmung der Temperatur von LeistungsMOSFETs:
Gespeichert in:
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| Format: | Buch |
| Sprache: | German |
| Veröffentlicht: |
Düsseldorf
VDI-Verl.
1998
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| Ausgabe: | Als Ms. gedr. |
| Schriftenreihe: | Verein Deutscher Ingenieure: [Fortschritt-Berichte VDI / 9]
282 |
| Schlagworte: | |
| Beschreibung: | Zugl.: Darmstadt, Techn. Univ., Diss. |
| Beschreibung: | XVII, 174 S. graph. Darst. |
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