k -aufgelöste inverse Photoemission an 6H-Siliziumkarbid(0001)-Oberflächen:
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1998
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INHALTSVERZEICHNIS
1
EINLEITUNG
1
2
SILIZIUMKARBID
(SIC)
2
2.1
KRISTALLSTRUKTUR
VON
SIC
.
3
2.2
OBERFLAECHEN
VON
SIC
.
6
2.2.1
BESCHREIBUNG
VON
KRISTALLOBERFLAECHEN
.
6
2.2.2
DIE
OBERFIAECHENREKONSTRUKTIONEN
VON
SIC
.
7
2.3
EIGENSCHAFTEN
UND
ANWENDUNGEN
VON
SIC
.
10
3
GRUNDLAGEN
DER
VERWENDETEN
MEFLVERFAHREN
12
3.1
AUGER-ELEKTRONEN-SPEKTROSKOPIE
(AES)
.
12
3.2
BEUGUNG
NIEDERENERGETISCHER
ELEKTRONEN
(LEED)
.
14
3.3
INVERSE
PHOTOEMISSION
(IPE)
.
14
3.3.1
GRUNDLAGEN
DER
INVERSEN
PHOTOEMISSION
.
14
3.3.2
MODELLVORSTELLUNGEN
DER
INVERSEN
PHOTOEMISSION
.
17
4
EXPERIMENTELLER
AUFBAU
21
4.1
UHV-APPARATUR
.
21
4.2
DAS
AES-SYSTEM
.
23
4.3
DAS
LEED-SYSTEM
.
23
4.4
DAS
IPE-SYSTEM
.
24
4.4.1
MANIPULATOR/PROBENJUSTIERUNG
.
24
4.4.2
DIE
ELEKTRONENKANONE
.
25
INHALTSVERZEICHNIS
4.4.3
DER
PHOTONENDETEKTOR
.
27
4.4.4
MESSRECHNER/ELEKTRONIK
.
30
4.4.5
DER
VERDAMPFER
.
32
5
PRAEPARATION
34
5.1
UEBERBLICK
UEBER
GAENGIGE
PRAEPARATIONSVERFAHREN
.
34
5.2
PRAEPARATION
VON
SIC
.
37
5.2.1
(1
X
1)-REKONSTRUKTION
.
38
5.2.2
(\/3
X
V/37?30)-REKONSTRUKTION
.
41
5.2.3
(3
X
3)-REKONSTRUKTION
.
43
5.2.4
(6\/3
X
6V/3FI30)-REKONSTRUKTION
.
44
5.2.5
(6
X
6)-REKONSTRUKTION
.
51
5.3
ZUSAMMENFASSUNG
DER
PRAEPARATIONSERFAHRUNGEN
.
52
6
IPE-MESSUNGEN
53
6.1
(1
X
1)-REKONSTRUKTION
.
55
6.2
(\/3
X
\/3.R30
(-REKONSTRUKTION
.
63
6.3
(3
X
3)-REKONSTRUKTION
.
70
6.4
UEBRIGE
REKONSTRUKTIONEN
.
74
6.5
ZUSAMMENFASSUNG
DER
ERGEBNISSE
AUS
DEN
IPE-MESSUNGEN
.
75
7
ZUSAMMENFASSUNG
76 |
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