Run length analysis of Shewhart charts applied to drifting processes under an integrative SPC-EPC model:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Göb, Rainer (VerfasserIn), Del Castillo, Enrique (VerfasserIn), Dräger, Klaus (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: Würzburg Würzburg Research Group on Quality Control, Inst. für Angewandte Mathematik und Statistik 1998
Schriftenreihe:Economic quality control 79
Schlagworte:
Beschreibung:29 Bl. graph. Darst.

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