Untersuchung von Oberflächenladungen auf photorefraktiven Kristallen mit dem Rasterkraftmikroskop:
Saved in:
Bibliographic Details
Main Author: Soergel, Elisabeth (Author)
Format: Book
Language:German
Published: München Utz, Wiss. 1998
Series:Physik
Subjects:
Item Description:Zugl.: Heidelberg, Univ., Diss., 1998
Physical Description:III, 205 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:3896754084

There is no print copy available.

Interlibrary loan Place Request Caution: Not in THWS collection!