Untersuchung von Oberflächenladungen auf photorefraktiven Kristallen mit dem Rasterkraftmikroskop:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Soergel, Elisabeth (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: München Utz, Wiss. 1998
Schriftenreihe:Physik
Schlagworte:
Beschreibung:Zugl.: Heidelberg, Univ., Diss., 1998
Beschreibung:III, 205 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:3896754084

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