Proceedings of the 8th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis: ESREF 97 ; 7 - 10 Octtober 1997, Bordeaux, France
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: ESREF Arcachon (VerfasserIn)
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Oxford Pergamon 1997
Schriftenreihe:Microelectronics and reliability 37,10/11
Schlagworte:
Beschreibung:Einzelaufnahme eines Zeitschr.-H.
Beschreibung:X, S. 1421 - 1798, II S. Ill., graph. Darst.

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