Proceedings of the 2nd Seminar on Quantitative Microscopy: geometrical measurements in the micro- and nanometre range with far and near field methods: on 6th and 7th november 1997 in Wien, Austria
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: Seminar on Quantitative Microscopy Wien (VerfasserIn)
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Bremerhaven Wirtschaftsverl. NW, Verl. für Neue Wiss. 1997
Schriftenreihe:Physikalisch-Technische Bundesanstalt <Braunschweig>: [PTB-Bericht / Abteilung Fertigungsmeßtechnik] 30
Schlagworte:
Beschreibung:209 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:3897010828

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