Schreiber, H. (1998). Charakterisierung von Si-Mikrolinsen mit einem lateralen Shearing-Interferometer.
Chicago Style (17th ed.) CitationSchreiber, Horst. Charakterisierung Von Si-Mikrolinsen Mit Einem Lateralen Shearing-Interferometer. 1998.
MLA (9th ed.) CitationSchreiber, Horst. Charakterisierung Von Si-Mikrolinsen Mit Einem Lateralen Shearing-Interferometer. 1998.
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