APA-Zitierstil (7. Ausg.)

Bowen, D. K., & Tanner, B. K. (1998). High resolution x-ray diffractometry and topography. Taylor & Francis.

Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)

Bowen, David Keith, und Brian K. Tanner. High Resolution X-ray Diffractometry and Topography. London [u.a.]: Taylor & Francis, 1998.

MLA-Zitierstil (9. Ausg.)

Bowen, David Keith, und Brian K. Tanner. High Resolution X-ray Diffractometry and Topography. Taylor & Francis, 1998.