Papers presented at the European Materials Research Society 1997 Spring Meeting, Symposium C: Recent Developments in Electron Microscopy and X-Ray Diffraction of Thin Film Structures: Strasbourg, France, June 16 - 20, 1997
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Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: Symposium Recent Developments in Electron Microscopy and X-Ray Diffraction of Thin Film Structures Straßburg (VerfasserIn)
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Amsterdam u.a. Elsevier 1998
Schriftenreihe:Thin solid films 319
Schlagworte:
Beschreibung:Einzelaufn. eines Zeitschr.-Heftes
Beschreibung:VII, 223 S. Ill., graph. Darst.

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