Developments in x-ray tomography: 28 - 29 July 1997, San Diego, California
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Bellingham, Wash. SPIE 1997
Schriftenreihe:Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers: Proceedings of SPIE 3149
Schlagworte:
Beschreibung:X, 266 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:0819425710

Es ist kein Print-Exemplar vorhanden.

Fernleihe Bestellen Achtung: Nicht im THWS-Bestand!