Untersuchung der elektronischen und strukturellen Eigenschaften von GaN, AlN und deren Legierungen:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Rieger, Walter Franz (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: Garching Verein zur Förderung des Walter Schottky Inst. der Techn. Univ. München e.V. 1997
Ausgabe:1. Aufl.
Schriftenreihe:Selected topics of semiconductor physics and technology 5
Schlagworte:
Beschreibung:Zugl.: München, Techn. Univ., Diss., 1997
Beschreibung:158 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:3932749057

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