Lenski, M. (1996). Defektverhalten in amorphem, hydrogenisiertem Silicium, dargestellt mit der Wasserstoffabstraktionsmethode ([Mikrofiche-Ausg.].).
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Lenski, Markus. Defektverhalten in Amorphem, Hydrogenisiertem Silicium, Dargestellt Mit Der Wasserstoffabstraktionsmethode. [Mikrofiche-Ausg.]. 1996.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Lenski, Markus. Defektverhalten in Amorphem, Hydrogenisiertem Silicium, Dargestellt Mit Der Wasserstoffabstraktionsmethode. [Mikrofiche-Ausg.]. 1996.
Achtung: Diese Zitate sind unter Umständen nicht zu 100% korrekt.