Defektverhalten in amorphem, hydrogenisiertem Silicium, dargestellt mit der Wasserstoffabstraktionsmethode:
Gespeichert in:
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| Format: | Abschlussarbeit Mikrofilm Buch |
| Sprache: | German |
| Veröffentlicht: |
1996
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| Ausgabe: | [Mikrofiche-Ausg.] |
| Schlagworte: | |
| Beschreibung: | Mikrofiche-Ausg.: 3 Mikrofiches : 24x. - Frankfurt (Main), Univ., Diss., 1996 |
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