Untersuchung photovoltaischer Eigenschaften von Halbleiteroberflächen mit Rastertunnelmikroskopie und Photoelektronenspektroskopie:
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
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| Format: | Abschlussarbeit Mikrofilm Buch |
| Sprache: | German |
| Veröffentlicht: |
1997
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| Ausgabe: | [Mikrofiche-Ausg.] |
| Schlagworte: | |
| Beschreibung: | Mikrofiche-Ausg.: 2 Mikrofiches : 24x. - Heidelberg, Univ., Diss., 1997 |
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