Structure and defects in SiO2, fundamentals and applications: proceedings of the Franco-Italian Symposium on Structure and Defects in SiO2, Fundamentals and Applications ; Agelonde, France, September 23 - 25, 1996
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Amsterdam u.a. North-Holland 1997
Schriftenreihe:Journal of non-crystalline solids 216
Schlagworte:
Beschreibung:Einzelaufnahme eines Zs.-Bandes
Beschreibung:XI, 217 S. Ill., graph. Darst.

Es ist kein Print-Exemplar vorhanden.

Fernleihe Bestellen Achtung: Nicht im THWS-Bestand!