APA (7th ed.) Citation

Kastner, M. J. (1997). Strukturcharakterisierung mit Röntgenbeugung, Wachstum und In-situ-Oberflächenuntersuchungen von II-VI-Halbleiter-Heterostrukturen. Roderer.

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Kastner, Marcus J. Strukturcharakterisierung Mit Röntgenbeugung, Wachstum Und In-situ-Oberflächenuntersuchungen Von II-VI-Halbleiter-Heterostrukturen. Regensburg: Roderer, 1997.

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Kastner, Marcus J. Strukturcharakterisierung Mit Röntgenbeugung, Wachstum Und In-situ-Oberflächenuntersuchungen Von II-VI-Halbleiter-Heterostrukturen. Roderer, 1997.