Strukturcharakterisierung mit Röntgenbeugung, Wachstum und In-situ-Oberflächenuntersuchungen von II-VI-Halbleiter-Heterostrukturen:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Kastner, Marcus J. (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: Regensburg Roderer 1997
Schriftenreihe:Theorie und Forschung 488
Schlagworte:
Online-Zugang:Inhaltsverzeichnis
Beschreibung:Zugl.: Regensburg, Univ., Diss., 1997
Beschreibung:IV, 132 S. graph. Darst.
ISBN:3890731619

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