Special issue "Resonant inelastic soft x-ray scattering (RIXS)":
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Berlin [u.a.] Springer 1997
Schriftenreihe:Applied physics / A 65,2
Schlagworte:
Beschreibung:Einzelaufnahme eines Zeitschriften-H.
Beschreibung:S. 86 - 220 Ill., graph. Darst.

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