Entwicklung neuer Verfahren zur Kopplung der Dünnschichtchromatographie mit der Sekundärionenmassenspektrometrie (DC-SIMS-Kopplung):
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Merschel, Ludger Bernhard (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: 1997
Schlagworte:
Beschreibung:Münster, Univ., Diss., 1997
Beschreibung:II, 155 S. Ill., graph. Darst.

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