Berührungslose Gestaltvermessung von Mikrostrukturen durch Fokussuche: = Profilometry of microstructures by depth from focus techniques
Gespeichert in:
1. Verfasser: | |
---|---|
Format: | Buch |
Sprache: | German |
Veröffentlicht: |
Pfinztal
ICT
1997
|
Schriftenreihe: | Fraunhofer-Institut für Chemische Technologie <Pfinztal>: Wissenschaftliche Schriftenreihe des ICT
13 |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Inhaltsverzeichnis |
Beschreibung: | Zugl.: Stuttgart, Univ., Diss., 1997 |
Beschreibung: | 186 S. Ill., graph. Darst. |
ISBN: | 3000016201 |
Internformat
MARC
LEADER | 00000nam a2200000 cb4500 | ||
---|---|---|---|
001 | BV011408143 | ||
003 | DE-604 | ||
005 | 19980807 | ||
007 | t | ||
008 | 970624s1997 gw ad|| m||| 00||| ger d | ||
016 | 7 | |a 950639141 |2 DE-101 | |
020 | |a 3000016201 |9 3-00-001620-1 | ||
035 | |a (OCoLC)75748932 | ||
035 | |a (DE-599)BVBBV011408143 | ||
040 | |a DE-604 |b ger |e rakddb | ||
041 | 0 | |a ger | |
044 | |a gw |c DE | ||
049 | |a DE-91G |a DE-83 | ||
084 | |a FEI 458d |2 stub | ||
084 | |a MSR 415d |2 stub | ||
100 | 1 | |a Scheuermann, Torsten |e Verfasser |4 aut | |
245 | 1 | 0 | |a Berührungslose Gestaltvermessung von Mikrostrukturen durch Fokussuche |b = Profilometry of microstructures by depth from focus techniques |c Torsten Scheuermann. [Fraunhofer-Institut Chemische Technologie, ICT] |
246 | 1 | 1 | |a Profilometry of microstructures by depth from focus techniques |
264 | 1 | |a Pfinztal |b ICT |c 1997 | |
300 | |a 186 S. |b Ill., graph. Darst. | ||
336 | |b txt |2 rdacontent | ||
337 | |b n |2 rdamedia | ||
338 | |b nc |2 rdacarrier | ||
490 | 1 | |a Fraunhofer-Institut für Chemische Technologie <Pfinztal>: Wissenschaftliche Schriftenreihe des ICT |v 13 | |
500 | |a Zugl.: Stuttgart, Univ., Diss., 1997 | ||
650 | 0 | 7 | |a Mikrostruktur |0 (DE-588)4131028-7 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a Berührungslose Messung |0 (DE-588)4236803-0 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a Oberflächenprüfung |0 (DE-588)4172254-1 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a Oberflächenfeingestalt |0 (DE-588)4201597-2 |2 gnd |9 rswk-swf |
655 | 7 | |0 (DE-588)4113937-9 |a Hochschulschrift |2 gnd-content | |
689 | 0 | 0 | |a Berührungslose Messung |0 (DE-588)4236803-0 |D s |
689 | 0 | 1 | |a Oberflächenprüfung |0 (DE-588)4172254-1 |D s |
689 | 0 | 2 | |a Oberflächenfeingestalt |0 (DE-588)4201597-2 |D s |
689 | 0 | 3 | |a Mikrostruktur |0 (DE-588)4131028-7 |D s |
689 | 0 | |5 DE-604 | |
830 | 0 | |a Fraunhofer-Institut für Chemische Technologie <Pfinztal>: Wissenschaftliche Schriftenreihe des ICT |v 13 |w (DE-604)BV035419595 |9 13 | |
856 | 4 | 2 | |m DNB Datenaustausch |q application/pdf |u http://bvbr.bib-bvb.de:8991/F?func=service&doc_library=BVB01&local_base=BVB01&doc_number=007670156&sequence=000001&line_number=0001&func_code=DB_RECORDS&service_type=MEDIA |3 Inhaltsverzeichnis |
Datensatz im Suchindex
_version_ | 1805067841761705984 |
---|---|
adam_text |
INHALTSVERZEICHNIS
1.
EINLEITUNG
.
23
1.1
MOTIVATION
-
AUFGABENSTELLUNG
.
23
1.2
LOESUNGSMOEGLICHKEITEN
-
STAND
DER
TECHNIK
.
26
1.2.1
SONDENVERFAHREN
.
26
1.2.2
TRIANGULATIONSVERFAHREN
.
26
1.2.3
INTERFEROMETRISCHE
VERFAHREN
.
27
1.2.4
LAUFZEITVERFAHREN
.
28
1.2.5
FOKUSSUCHENDE
VERFAHREN
.
29
2.
THEORETISCHE
GRUNDLAGEN
.
31
2.1
SYSTEMTHEORIE
.
33
2.2
OPTIK
.
35
2.2.1
ABBILDUNGSPERSPEKTIVEN
.
35
2.2.2
GEOMETRISCHE
OPTIK
-
STRAHLENMODELL
.
36
2.2.3
KOHAERENTES
UND
INKOHAERENTES
LICHT
.
39
2.2.4
WELLENOPTIK
-
BEUGUNGSMODELL
.
42
2.2.5
UEBERTRAGUNGSFUNKTIONEN
BEI
DEFOKUSSIERTEN
SYSTEMEN
.
45
2.2.6
ABBILDUNGSFEHLER
.
57
2.3
KONFOKALES
PRINZIP
.
59
2.3.1
LATERALE
AUFLOESUNG
.
60
2.3.2
AXIALE
AUFLOESUNG
.
61
2.4
DIGITALE
BILDVERARBEITUNG
.
63
2.4.1
BILDABTASTUNG
.
64
2.4.2
LINEARE
FILTERUNG
.
67
2.4.3
NICHTLINEARE
FILTERUNG
.
68
2.5
FUZZY-LOGIK
.
:
.
69
2.5.1
UNSCHARFE
MENGEN,
ZUGEHOERIGKEITSFUNKTION
.
69
2.5.2
LINGUISTISCHE
VARIABLE
.
71
2.5.3
FESTLEGUNG
DER
TERMANZAHL
.
72
2.5.4
OPERATOREN
DER
FUZZY
LOGIK
.
72
2.5.5
ENTWURF
EINES
FUZZY-CONTROLLERS
.
73
3.
GESTALTVERMESSUNG
DURCH
FOKUSSUCHE
.
77
3.1
FUNKTIONSPRINZIP
.
80
3.2
APPARATIVER
AUFBAU
.
82
3.2.1
MIKROSKOP
.
84
16
3.2.2
KAMERA
.
85
3.2.3
DIGITALISIERUNG
.
86
3.2.4
SIGNALVERARBEITUNG
.
87
3.3
MESSABLAUF
.
88
3.3.1
AUSSTEUERUNG
DER
SIGNALSTRECKE
.
88
3.4
KONTRASTBERECHNUNG
.
90
3.4.1
DER
LAPLACEOPERATOR
.
92
3.4.2
MODIFIZIERTER
SOBELOPERATOR
.
93
3.5
AKTIVE
BELEUCHTUNG
.
97
3.5.1
PERIODISCHE
MUSTER
.
98
3.5.2
STOCHASTISCHE
MUSTER
.
106
3.5.3
NAEHERUNGSFORMELN
FUER
DEN
VERLAUF
DER
HALBWERTSTIEFE
.
112
3.5.4
LATERALE
AUFLOESUNG
.
113
3.5.5
EINFLUSS
MONOCHROMATISCHER
ABBILDUNGSFEHLER
AUF
DEN
KONTRAST
VERLAUF
.
114
3.5.6
EINFLUSS
CHROMATISCHER
ABBILDUNGSFEHLER
AUF
DEN
KONTRASTVERLAUF
117
3.5.7
DIE
HALBWERTSTIEFEN
DER
BELEUCHTUNGSMUSTER
IM
VERGLEICH
.
120
3.6
EINFLUSS
DER
OPTISCHEN
OBJEKTEIGENSCHAFTEN
.
122
3.7
REKONSTRUKTION
DER
OBJEKTOBERFLAECHE
.
125
3.7.1
TELEZENTRISCHE
ABBILDUNG
.
125
3.7.2
REGRESSION
.
126
3.7.3
SCHARFBILD-,
KONTRAST-,
UND
MOMENTENBERECHNUNG
.
127
3.7.4
MODIFIZIERTE
MAXIMADETEKTION
.
131
3.7.5
OPTIMALE
ABTASTUNG
DER
KONTRASTKURVE
.
132
3.7.6
MESSGENAUIGKEIT
.
134
3.8
RESSOURCEN
.
138
3.8.1
SPEICHERBEDARF
.
138
3.8.2
LAUFZEIT
.
138
3.9
URSACHEN
FUER
MESSFEHLER
UND
IHRE
AUSWIRKUNGEN
.
139
3.9.1
NICHTSYSTEMATISCHE
MESSFEHLER
.
139
3.9.2
SYSTEMATISCHE
MESSFEHLER
.
142
3.10
AUTOMATISIERTE
MESSFEHLERERKENNUNG
.
149
3.10.1
MESSFEHLERDIAGNOSE
DURCH
FUZZY-LOGIK
.
150
4.
ANWENDUNGEN
.
159
5.
ZUSAMMENFASSUNG
.
165
ANHANG
169
A.
SYSTEMTHEORETISCHE
DEFINITIONEN
UND
SAETZE
.
171
A.L
DIE
J-FUNKTION
.
171
A.2
FALTUNGSPRODUKT
.
171
A.3
KORRELATIONSPRODUKT
.
172
17
A.4
DIE
IMPULSANTWORT
.
173
A.5
UEBERTRAGUNGSFUNKTION
.
173
A.6
FALTUNGS
UND
KORRELATIONSSAETZE
.
174
A.7
PARSEVALSCHE
GLEICHUNG
.
175
B.
HERLEITUNGEN
.
177
B.L
INKOHAERENTE
PSF
.
177
B.2
DER
AXIALE
VERLAUF
DER
PSF
.
179 |
any_adam_object | 1 |
author | Scheuermann, Torsten |
author_facet | Scheuermann, Torsten |
author_role | aut |
author_sort | Scheuermann, Torsten |
author_variant | t s ts |
building | Verbundindex |
bvnumber | BV011408143 |
classification_tum | FEI 458d MSR 415d |
ctrlnum | (OCoLC)75748932 (DE-599)BVBBV011408143 |
discipline | Physik Mess-/Steuerungs-/Regelungs-/Automatisierungstechnik Feinwerktechnik |
format | Book |
fullrecord | <?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>00000nam a2200000 cb4500</leader><controlfield tag="001">BV011408143</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">19980807</controlfield><controlfield tag="007">t</controlfield><controlfield tag="008">970624s1997 gw ad|| m||| 00||| ger d</controlfield><datafield tag="016" ind1="7" ind2=" "><subfield code="a">950639141</subfield><subfield code="2">DE-101</subfield></datafield><datafield tag="020" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">3000016201</subfield><subfield code="9">3-00-001620-1</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)75748932</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV011408143</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">rakddb</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">ger</subfield></datafield><datafield tag="044" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">gw</subfield><subfield code="c">DE</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-91G</subfield><subfield code="a">DE-83</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">FEI 458d</subfield><subfield code="2">stub</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">MSR 415d</subfield><subfield code="2">stub</subfield></datafield><datafield tag="100" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Scheuermann, Torsten</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Berührungslose Gestaltvermessung von Mikrostrukturen durch Fokussuche</subfield><subfield code="b">= Profilometry of microstructures by depth from focus techniques</subfield><subfield code="c">Torsten Scheuermann. [Fraunhofer-Institut Chemische Technologie, ICT]</subfield></datafield><datafield tag="246" ind1="1" ind2="1"><subfield code="a">Profilometry of microstructures by depth from focus techniques</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="a">Pfinztal</subfield><subfield code="b">ICT</subfield><subfield code="c">1997</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">186 S.</subfield><subfield code="b">Ill., graph. Darst.</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">n</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">nc</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="490" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Fraunhofer-Institut für Chemische Technologie <Pfinztal>: Wissenschaftliche Schriftenreihe des ICT</subfield><subfield code="v">13</subfield></datafield><datafield tag="500" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Zugl.: Stuttgart, Univ., Diss., 1997</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Mikrostruktur</subfield><subfield code="0">(DE-588)4131028-7</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Berührungslose Messung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4236803-0</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Oberflächenprüfung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4172254-1</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Oberflächenfeingestalt</subfield><subfield code="0">(DE-588)4201597-2</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="655" ind1=" " ind2="7"><subfield code="0">(DE-588)4113937-9</subfield><subfield code="a">Hochschulschrift</subfield><subfield code="2">gnd-content</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="0"><subfield code="a">Berührungslose Messung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4236803-0</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="1"><subfield code="a">Oberflächenprüfung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4172254-1</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="2"><subfield code="a">Oberflächenfeingestalt</subfield><subfield code="0">(DE-588)4201597-2</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="3"><subfield code="a">Mikrostruktur</subfield><subfield code="0">(DE-588)4131028-7</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="830" ind1=" " ind2="0"><subfield code="a">Fraunhofer-Institut für Chemische Technologie <Pfinztal>: Wissenschaftliche Schriftenreihe des ICT</subfield><subfield code="v">13</subfield><subfield code="w">(DE-604)BV035419595</subfield><subfield code="9">13</subfield></datafield><datafield tag="856" ind1="4" ind2="2"><subfield code="m">DNB Datenaustausch</subfield><subfield code="q">application/pdf</subfield><subfield code="u">http://bvbr.bib-bvb.de:8991/F?func=service&doc_library=BVB01&local_base=BVB01&doc_number=007670156&sequence=000001&line_number=0001&func_code=DB_RECORDS&service_type=MEDIA</subfield><subfield code="3">Inhaltsverzeichnis</subfield></datafield></record></collection> |
genre | (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content |
genre_facet | Hochschulschrift |
id | DE-604.BV011408143 |
illustrated | Illustrated |
indexdate | 2024-07-20T03:40:39Z |
institution | BVB |
isbn | 3000016201 |
language | German |
oai_aleph_id | oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-007670156 |
oclc_num | 75748932 |
open_access_boolean | |
owner | DE-91G DE-BY-TUM DE-83 |
owner_facet | DE-91G DE-BY-TUM DE-83 |
physical | 186 S. Ill., graph. Darst. |
publishDate | 1997 |
publishDateSearch | 1997 |
publishDateSort | 1997 |
publisher | ICT |
record_format | marc |
series | Fraunhofer-Institut für Chemische Technologie <Pfinztal>: Wissenschaftliche Schriftenreihe des ICT |
series2 | Fraunhofer-Institut für Chemische Technologie <Pfinztal>: Wissenschaftliche Schriftenreihe des ICT |
spelling | Scheuermann, Torsten Verfasser aut Berührungslose Gestaltvermessung von Mikrostrukturen durch Fokussuche = Profilometry of microstructures by depth from focus techniques Torsten Scheuermann. [Fraunhofer-Institut Chemische Technologie, ICT] Profilometry of microstructures by depth from focus techniques Pfinztal ICT 1997 186 S. Ill., graph. Darst. txt rdacontent n rdamedia nc rdacarrier Fraunhofer-Institut für Chemische Technologie <Pfinztal>: Wissenschaftliche Schriftenreihe des ICT 13 Zugl.: Stuttgart, Univ., Diss., 1997 Mikrostruktur (DE-588)4131028-7 gnd rswk-swf Berührungslose Messung (DE-588)4236803-0 gnd rswk-swf Oberflächenprüfung (DE-588)4172254-1 gnd rswk-swf Oberflächenfeingestalt (DE-588)4201597-2 gnd rswk-swf (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content Berührungslose Messung (DE-588)4236803-0 s Oberflächenprüfung (DE-588)4172254-1 s Oberflächenfeingestalt (DE-588)4201597-2 s Mikrostruktur (DE-588)4131028-7 s DE-604 Fraunhofer-Institut für Chemische Technologie <Pfinztal>: Wissenschaftliche Schriftenreihe des ICT 13 (DE-604)BV035419595 13 DNB Datenaustausch application/pdf http://bvbr.bib-bvb.de:8991/F?func=service&doc_library=BVB01&local_base=BVB01&doc_number=007670156&sequence=000001&line_number=0001&func_code=DB_RECORDS&service_type=MEDIA Inhaltsverzeichnis |
spellingShingle | Scheuermann, Torsten Berührungslose Gestaltvermessung von Mikrostrukturen durch Fokussuche = Profilometry of microstructures by depth from focus techniques Fraunhofer-Institut für Chemische Technologie <Pfinztal>: Wissenschaftliche Schriftenreihe des ICT Mikrostruktur (DE-588)4131028-7 gnd Berührungslose Messung (DE-588)4236803-0 gnd Oberflächenprüfung (DE-588)4172254-1 gnd Oberflächenfeingestalt (DE-588)4201597-2 gnd |
subject_GND | (DE-588)4131028-7 (DE-588)4236803-0 (DE-588)4172254-1 (DE-588)4201597-2 (DE-588)4113937-9 |
title | Berührungslose Gestaltvermessung von Mikrostrukturen durch Fokussuche = Profilometry of microstructures by depth from focus techniques |
title_alt | Profilometry of microstructures by depth from focus techniques |
title_auth | Berührungslose Gestaltvermessung von Mikrostrukturen durch Fokussuche = Profilometry of microstructures by depth from focus techniques |
title_exact_search | Berührungslose Gestaltvermessung von Mikrostrukturen durch Fokussuche = Profilometry of microstructures by depth from focus techniques |
title_full | Berührungslose Gestaltvermessung von Mikrostrukturen durch Fokussuche = Profilometry of microstructures by depth from focus techniques Torsten Scheuermann. [Fraunhofer-Institut Chemische Technologie, ICT] |
title_fullStr | Berührungslose Gestaltvermessung von Mikrostrukturen durch Fokussuche = Profilometry of microstructures by depth from focus techniques Torsten Scheuermann. [Fraunhofer-Institut Chemische Technologie, ICT] |
title_full_unstemmed | Berührungslose Gestaltvermessung von Mikrostrukturen durch Fokussuche = Profilometry of microstructures by depth from focus techniques Torsten Scheuermann. [Fraunhofer-Institut Chemische Technologie, ICT] |
title_short | Berührungslose Gestaltvermessung von Mikrostrukturen durch Fokussuche |
title_sort | beruhrungslose gestaltvermessung von mikrostrukturen durch fokussuche profilometry of microstructures by depth from focus techniques |
title_sub | = Profilometry of microstructures by depth from focus techniques |
topic | Mikrostruktur (DE-588)4131028-7 gnd Berührungslose Messung (DE-588)4236803-0 gnd Oberflächenprüfung (DE-588)4172254-1 gnd Oberflächenfeingestalt (DE-588)4201597-2 gnd |
topic_facet | Mikrostruktur Berührungslose Messung Oberflächenprüfung Oberflächenfeingestalt Hochschulschrift |
url | http://bvbr.bib-bvb.de:8991/F?func=service&doc_library=BVB01&local_base=BVB01&doc_number=007670156&sequence=000001&line_number=0001&func_code=DB_RECORDS&service_type=MEDIA |
volume_link | (DE-604)BV035419595 |
work_keys_str_mv | AT scheuermanntorsten beruhrungslosegestaltvermessungvonmikrostrukturendurchfokussucheprofilometryofmicrostructuresbydepthfromfocustechniques AT scheuermanntorsten profilometryofmicrostructuresbydepthfromfocustechniques |