Bindungsverhalten, Grenzflächendefekte und Einfluss der Oberflächenstruktur beim direkten atomaren Verbinden von Silizium:
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1997
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INHALTSVERZEICHNIS
1. EINLEITUNG 1
2. PHYSIKALISCHE UND CHEMISCHE GRUNDLAGEN DES WAFERBONDENS 4
2.1 VAN DER WAALS-WECHSELWIRKUNG ZWEIER OBERFLAECHEN UND ATOMARES
VERBINDEN VON 4
FESTKOERPERN
2.2
BINDUNGSMECHANISMEN BEIM ATOMAREN VERBINDEN VON SILIZIUM 6
2.2.1 OBERFLAECHENREAKTIONEN VON SILIZIUM UND SILIZIUMDIOXID 7
2.2.2 DAS BINDUNGSVERHALTEN ALS FUNKTION DER TEMPERATUR 10
2.3 EXPERIMENTELLE DURCHFUEHRUNG DES DIREKTEA_WAFERBONDENS 15
2.4 OBERFLAECHENENERGIE UND DEREN MESSUNG 19
3. EINFLUSS DER OBERFLAECHENMORPHOLOGIE UND BILDUNG VON
GRENZFLAECHENDEFEKTEN 24
3.1 EINFLUSS DER OBERFLAECHENSTRUKTUR AUF DAS ATOMARE VERBINDEN VON
FESTKOERPERN 24
3.1.1 OBERFLAECHENWELLIGKEIT UND ATOMARE RAUHIGKEIT 24
3.1.2 EINFLUSS VON PARTIKELN ' 29
3.1.3 ATOMARES VERBINDEN UEBER STUFEN 32
3.2 BILDUNG UND WACHSTUM VON GRENZFLAECHENBLASEN 36
3.2.1 URSACHEN DER GRENZFLAECHENBLASEN 36
3.2.2 WACHSTUM VON GRENZFLAECHENBLASEN 43
3.2.3 SCHRUMPFEN UND VERSCHWINDEN DER GRENZFLAECHENBLASEN 45
4. EXPERIMENTELLES UND ERGEBNISSE 47
4.1 BINDUNGSGESCHWINDIGKEIT BEIM SILIZIUM WAFERBONDEN 47
4.2 DIE MESSUNG DER OBERFLAECHENENERGIE MIT DER SPALTMETHODE ALS
ZEITABHAENGIGER 59
PROZESS
4.3 ATOMARES VERBINDEN UEBER STRUKTUREN 69
4.4 ENTSTEHUNG UND WACHSTUM VON GRENZFLAECHENBLASEN 83
5. ZUSAMMENFASSUNG UND AUSBLICK 101
6. LITERATURVERZEICHNIS 104
ANHANG
LEBENSLAUF, ERKLAERUNG UND DANKSAGUNG
II
BIBLIOGRAFISCHE INFORMATIONEN
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