Inverse Photoemission und Probenstromspektroskopie an InP(100) und GaAs(100):
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| Format: | Buch |
| Sprache: | German |
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1996
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INHALTSVERZEICHNIS
1 EINLEITUNG 1
2 ELEKTRONISCHE STRUKTUR VON III-V-HALBLEITERN 4
2.1 VOLUMENEIGENSCHAFTEN . 4
2.2 EIGENSCHAFTEN DER OBERFLAECHE. 6
3 MESSVERFAHREN 10
3.1 INVERSE PHOTOEMISSION (IPE). 10
3.1.1 MODELL DIREKTER UEBERGAENGE. 12
3.1.2 FC-UNSCHAERFE. 13
YYYY
3.1.3 LOKALISIERUNG DER IPE-UBERGAENGE IM K-RAUM . 14
3.1.4 INTENSITAET DER IPE-UEBERGAENGE. 19
3.2 PROBENSTROMSPEKTROSKOPIE (TCS). 19
4 GRUNDLAGEN DER AUSWERTUNG 24
4.1 DIE NAEHERUNG FREIER ELEKTRONEN.25
4.2 DIE EMPIRISCHE PSEUDOPOTENTIALMETHODE (EPM).28
4.3 DIREKTE UEBERGAENGE IN DER VOLUMENBANDSTRUKTUR.30
4.4 AUSWAHLREGELN.31
5 EXPERIMENTELLER AUFBAU 34
5.1 VAKUUMSYSTEM UND MAGNETFELDKOMPENSATION .34
5.2 MESSANORDNUNG FUER IPE UND TCS .35
5.2.1 PROBENHALTER UND MANIPULATOR.35
5.2.2 ELEKTRONENQUELLE.35
5.2.3 PHOTONENDETEKTOR.40
5.3 PROBENPRAEPARATION.44
5.4 ELEKTRONIK UND RECHNERSTEUERUNG.45
BIBLIOGRAFISCHE INFORMATIONEN
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5.4.1 SIGNALVERARBEITUNG IPE.
5.4.2 SIGNALVERARBEITUNG TCS
5.4.3 RECHNERSTEUERUNG.
5.5 KALIBRIERUNG UND JUSTAGE DER MESSANORDNUNG
5.5.1 WINKELJUSTAGE.
5.5.2 FESTLEGUNG DER ENERGIESKALA.
6 PRAEPARATION DER OBERFLAECHEN
6.1 GRUNDSAETZLICHE UEBERLEGUNGEN
6.2 PRAEPARATION VON INP(LOO) UND GAAS(LOO)
6.3 REKONSTRUKTION DER PRAEPARIERTEN OBERFLAECHEN
6.3.1 INP(LOO).
6.3.2 GAAS(LOO).
7 ERGEBNISSE DER INVERSEN PHOTOEMISSION
7.1 INP(LOO).
7.1.1 VOLUMENZUSTAENDE.
7.1.2 OBERFLAECHENZUSTAENDE.
7.1.3 ZUSAMMENFASSENDE UEBERSICHT
7.2 GAAS(LOO).
7.2.1 VOLUMENZUSTAENDE.
7.2.2 OBERFLAECHENZUSTAENDE.
7.2.3 ZUSAMMENFASSENDE UEBERSICHT
8 ERGEBNISSE DER PROBENSTROMSPEKTROSKOPIE
8.1 INP(LOO).
8.2 GAAS(LOO).
8.3 BEWERTUNG DER INTERPRETATIONSMODELLE.
9 ZUSAMMENFASSUNG UND AUSBLICK
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