Untersuchung der unbesetzten elektronischen Zustände von 6H-SiC(0001) mittels winkelaufgelöster inverser Photoemissionsspektroskopie:
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| Format: | Buch |
| Sprache: | German |
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1996
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INHALTSVERZEICHNIS
1
EINFUEHRUNG
1
2
SILIZIUMKARBID
2
2.1
HISTORISCHES
.
2
2.2
KRISTALLSTRUKTUR
.
3
2.3
ANWENDUNGEN
.
6
3
MESSVERFAHREN
7
3.1
AUGERANALYSE
.
7
3.2
LEED-ANALYSE
.
9
3.2.1
ANSCHAULICHE
ERKLAERUNG
DER
EXISTENZ
VON
LEED-REFLEXEN
.
10
3.2.2
QUANTITATIVE
BETRACHTUNGEN
.
11
3.2.3
NICHT
IDEALE
OBERFLAECHEN
.
3.2.4
PRAKTISCHE
BESTIMMUNG
DES
GITTERPARAMETERS
3.3
INVERSE
PHOTOEMISSION
.
3.3.1
GRUNDLAGEN
DER
INVERSEN
PHOTOEMISSION
.
.
3.3.2
MODELLVORSTELLUNGEN
.
3.3.3
STUFENMODELL
.
OE
8
TO
5
5T
K
4
APPARATIVES
4.1
UHV-SYSTEM
.
4.2
PROBENPRAEPARATION
.
4.3
AUGERSYSTEM
.
4.4
LEED-SYSTEM
.
4.5
PROBENMANIPULATOR
.
4.6
ELEKTRONENQUELLE
.
4.7
PHOTONENNACHWEIS
.
4.8
PROBENJUSTIERUNG
.
4.9
KALIBRIERUNG
DER
ENERGIESKALA
4.10
SIGNALVERARBEITUNG
.
4.11
MESSRECHNER
.
39
4.11.1
HARDWAREENTWICKLUNG
.
41
4.11.2
SOFTWAREENTWICKLUNG
.
43
INHALTSVERZEICHNIS
5
PROBEN
5.1
PRAEPARATION
.
5.2
LEED-ANALYSE
.
5.3
AUGERANALYSE
.
5.4
FAZIT
.
6
IPE
6.1
MESSERGEBNISSE
.
6.1.1
SENKRECHTER
ELEKTRONENEINFALL
.
6.1.2
WINKELAUFGELOESTE
SPEKTREN
.
6.1.3
DISPERSION
.
6.2
INTERPRETATION
.
6.3
RESUEMEE
.
7
ZUSAMMENFASSUNG
60
8
8
8
8
8
8
8
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